Oto książka, w której omówiono ważne współczesne problemy metrologii, a w tym: rolę metrologii w procesie poznania, ocenę niepewności pomiarów, metody planowania eksperymentów, sieci neuronowe i ich zastosowania w metrologii, interferometrię laserową, systemy pomiarowe.
WNT
Oprawa miękka
Wydanie: pierwsze
ISBN: 978-83-204-3353-1
Wydanie: pierwsze
ISBN: 978-83-204-3353-1
Liczba stron: 576
Format: 16.3x23.8cm
Cena detaliczna: 79,00 zł
Format: 16.3x23.8cm
Cena detaliczna: 79,00 zł